薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布日期：2022-04-20      瀏覽次數(shù)：1357

薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷檢測(cè)技術(shù)

材料檢測(cè)裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術(shù)開(kāi)發(fā)的平原地面外觀(guān)檢測(cè)裝置。在保持傳統(tǒng)易用性的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測(cè)針孔、異物污染和污垢附著等小缺陷外，我們不會(huì)忽略薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷。

特征

• 無(wú)論安裝位置如何，都可以靈活布局
  取消了一體機(jī)的主體控制面板，由各功能的組件構(gòu)成。
  它提高了安裝的自由度，有助于有效利用工廠(chǎng)空間。

• 追求用戶(hù)友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的對(duì)話(huà)方式，操作簡(jiǎn)單。

• 更新成像系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)高速和高分辨率通過(guò)
  采用新開(kāi)發(fā)的數(shù)碼相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高速傳輸過(guò)程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測(cè)。

• 標(biāo)配
  原裝 LED 照明燈 采用實(shí)現(xiàn)高亮度和高顯色性的LED 照明燈。
  也可以選擇魚(yú)眼（凝膠）和黑點(diǎn)，由于特殊的結(jié)構(gòu)很難判斷。

• 即使
  放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過(guò)利用人工智能的超分辨率技術(shù)，即使放大和顯示有缺陷的圖像，圖像也不會(huì)變得粗糙。

• 通過(guò)廣泛的數(shù)據(jù)管理進(jìn)行有效的質(zhì)量控制
  可以實(shí)時(shí)匯總每列和距離的缺陷數(shù)量，并且可以將數(shù)據(jù)輸出為 PDF 文件。
  它還通過(guò)網(wǎng)絡(luò)支持?jǐn)?shù)據(jù)管理功能，有助于提高質(zhì)量控制效率和生產(chǎn)力。

• 檢查功能的顯著擴(kuò)展
  通過(guò)同時(shí)檢查多達(dá) 5 個(gè)電路工藝，大大提高了檢查性能。
  線(xiàn)性缺陷檢測(cè)電路增強(qiáng)了對(duì)皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)、絨毛等的檢測(cè)。
  此外，光缺陷檢測(cè)電路增強(qiáng)了對(duì)大面積光斑和不均勻光斑的檢測(cè)。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 應(yīng)用
  薄膜、片材、無(wú)紡布、金屬、各種涂膜等。

• 適配機(jī)
  貼膜、制片機(jī)等