光學(xué)應(yīng)用測(cè)量-FFP 測(cè)量裝置介紹
FFP(遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖)測(cè)量設(shè)備是測(cè)量半導(dǎo)體激光器、光纖、光波導(dǎo)、光模塊等FFP(遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖)的設(shè)備。
光學(xué)系統(tǒng)采用我司的FFP測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)M-Scope type F,結(jié)合我司的各種光電探測(cè)器和光束分析模塊AP013,可用于測(cè)量各種光學(xué)器件的FFP、輻射角分布、輸出NA。用于分析。
通過(guò)選擇光電探測(cè)器,可以構(gòu)建從可見(jiàn)光范圍到1550nm近紅外波段的各種光通信系統(tǒng)。
使用FFP 測(cè)量光學(xué)系統(tǒng) M-Scope F 型
專用光學(xué)系統(tǒng)+圖像處理分析方法。易于調(diào)整,可在各個(gè)角度快速分析 FFP。
長(zhǎng)工作距離設(shè)計(jì),工作距離約6mm。
有兩種型號(hào)配備增透膜:一種適用于可見(jiàn)光范圍,另一種適用于近紅外范圍。
近紅外區(qū)域(650~1700nm波段增透膜產(chǎn)品):M-Scope type F
可見(jiàn)光范圍(400~650nm波段增透膜產(chǎn)品):M-Scope type F/BL
通過(guò)選擇光電探測(cè)器,可以進(jìn)行從可見(jiàn)光范圍到近紅外范圍的測(cè)量。
400~1100nm:高精度CMOS探測(cè)器ISA071、ISA071GL等
950~1700nm:InGaAs高靈敏度近紅外探測(cè)器ISA041H2等
[新] 400~1700nm:InGaAs高分辨率近紅外探測(cè)器 ISA041HRA
光束分析模塊AP013,包括分析裝置、光束分析軟件、檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器和校正數(shù)據(jù)。
多合一包裝允許安裝后立即使用。
Optimetrics BA Standard,專為光束輪廓測(cè)量而開(kāi)發(fā)的光束測(cè)量和分析軟件
我公司自主研發(fā)的用于測(cè)量光束輪廓的圖像處理和分析軟件。還支持EF/EAF測(cè)量功能。
各種光器件、光模塊的FFP測(cè)量與分析
半導(dǎo)體激光器、光纖、光波導(dǎo)和光模塊的 FFP 分析
各種光學(xué)器件和光學(xué)元件的NA測(cè)量和分析
光纖、光布線波導(dǎo)、蝶形模塊等的NA分析。
多模光纖環(huán)向角通量分析
FFP 測(cè)量光學(xué)系統(tǒng) M-Scope type F 系列選型
650~1700nm:FFP測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)M-Scope F型
400~650nm:用于藍(lán)色 M-Scope F/BL 型的 FFP 測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)
紅外高分辨率 FFP 光學(xué)系統(tǒng) M-Scope 型 FHR
這是一款專用于1310~1550nm波段的紅外高分辨率FFP測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)。
探測(cè)器
400~1100nm:高精度CMOS探測(cè)器ISA071、ISA071GL
950~1700nm:InGaAs高靈敏度近紅外探測(cè)器ISA041H2(紅外激光光束輪廓測(cè)量推薦型號(hào))
400~1700nm:【新】InGaAs高分辨率近紅外探測(cè)器 ISA041HRA (SXGA)
僅 M-Scope 型 FHR:VGA 型 InGaAs 高靈敏度近紅外探測(cè)器 ISA041VH
光束分析模塊AP013
數(shù)據(jù)處理裝置主機(jī)、檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器、光束測(cè)量分析軟件Optometrics BA Standard、校正數(shù)據(jù)
配件
附帶電纜、手冊(cè)等
ND濾鏡
可見(jiàn)光(400~700nm):NDF-5
近紅外(700nm~1100nm):NDF NIR-5
紅外(1310nm~1550nm):NDF IR-5
光學(xué)系統(tǒng)安裝座
用于光纖測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)支架
垂直光學(xué)系統(tǒng)安裝架
廣域 FFP 測(cè)量裝置
這是一款FFP(遠(yuǎn)場(chǎng)模式)測(cè)量裝置,覆蓋約3mmφ的光通量直徑,支持大發(fā)光面積樣品測(cè)量。
準(zhǔn)直光測(cè)量裝置
這是一種高分辨率、實(shí)時(shí)觀察和測(cè)量光束窄發(fā)散角(準(zhǔn)直光狀態(tài))的裝置。
光束NFP測(cè)量裝置
這是采用圖像處理分析方法的高性能NFP(近場(chǎng)模式)測(cè)量裝置。
NFP/FFP同時(shí)測(cè)量裝置
這是一種使用同一外殼中的光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量光束的 NFP 和 FFP 的裝置。
環(huán)向磁通/環(huán)向角磁通測(cè)量裝置
這是一種多模光纖環(huán)型通量/環(huán)型角通量分析裝置。
光束分析模塊AP013
高性能圖像處理系統(tǒng),具有各種發(fā)光器件的光束測(cè)量、NFP/FFP/EF/EAF/4σ分析等豐富的發(fā)光參數(shù)分析功能。一套分析PC、光束分析軟件Optometrics BA、相機(jī)驅(qū)動(dòng)程序和各種校正數(shù)據(jù)。
我們還擁有各種光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)和光學(xué)測(cè)量設(shè)備,可用于各種其他目的和應(yīng)用。