金屬導(dǎo)電材料如何檢測(cè)品質(zhì)問(wèn)題-日本micro-fix渦流探傷儀MX-2000
檢測(cè)金屬表面上或正下方的微小缺陷。它具有出色的可操作性,任何人都可以輕松處理它。
對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行非接觸式檢查,以檢查導(dǎo)電材料上是否有劃痕和裂紋。根據(jù)預(yù)設(shè)的閾值執(zhí)行通過(guò)/失敗判斷,并將判斷結(jié)果輸出到外部。此外,可以在監(jiān)視器上檢查實(shí)際的探傷波形,因此可以輕松設(shè)置測(cè)量條件。
檢測(cè)例[1](臨時(shí))
檢測(cè)例[2](裂紋)
檢測(cè)例[3](焊接不良)
模型 | MX-2000 |
---|---|
電源 | 交流電100-240V 50Hz / 60Hz 60W |
輸入輸出 | 8點(diǎn)光電耦合器輸入/ 9點(diǎn)MOS FET輸出 |
使用環(huán)境 | 溫度0℃?40℃濕度10?80%RH(無(wú)結(jié)露) |
設(shè)備尺寸 | 430 x 310 x 390(寬x高x深) |
©2024 秋山科技(東莞)有限公司(maxwell-hk.cn) 版權(quán)所有 總訪問(wèn)量:350489 sitemap.xml
地址:東莞市塘廈鎮(zhèn)塘廈大道298號(hào)603室 技術(shù)支持:環(huán)保在線 管理登陸 備案號(hào):粵ICP備20060244號(hào)