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tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測量儀
tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測量儀 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無需更換燈泡，大大降低了運行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：688
tokina圖麗LED光源KTL-400 光學(xué)測量儀
tokina圖麗LED光源KTL-400 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無需更換燈泡，大大降低了運行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：670
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：916
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測用表面檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1606
YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：856
YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：888
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：916
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：912
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測量儀
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：979
YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：920
YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：950
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測量儀
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：2910
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測量儀
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：2005
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測量儀
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：894
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：931
