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更新日期:2024-03-19
簡要描述:
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查(重金屬等)的簡單快速分析技術(shù)(簡單分析方法)。
產(chǎn)品種類 | 便攜 |
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日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查(重金屬等)的簡單快速分析技術(shù)(簡單分析方法)。
■用于工廠現(xiàn)場的土壤分析... ●可以進(jìn)行無損且快速的成分分析。 ●緊湊輕巧,因此可以進(jìn)行現(xiàn)場分析。 ●提高了針對(duì)中,重金屬元素的靈敏度?! 馯tility僅適用于AC100V-5A?! 裨O(shè)備內(nèi)部是受控區(qū)域。
能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品,并使用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,因此無論樣品的形狀如何,它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進(jìn)行定量分析。
半導(dǎo)體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器(SDD),并且可以與數(shù)字計(jì)數(shù)電路(DSP)結(jié)合使用以測量高分辨率和高計(jì)數(shù)率。
為了提高分析性能,準(zhǔn)備了可以使能量分辨率和半導(dǎo)體檢測器的計(jì)數(shù)靈敏度z大化的激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件。
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
測量原理 | 能量色散X射線熒光分析方法 |
測量目標(biāo) | 用于土壤分析的環(huán)境樣品(固體/粉末/液體) |
測量元件 | 硫,鉻,砷,硒,鎘,汞,鉛(13 AI- 92 U) |
樣品形狀 | z大78mmφx 55mmH |
樣品室氣氛 | 氣氛 |
X射線額定輸出 | 48kV,2mA高達(dá)50W |
探測器 | 電子冷卻的硅漂移檢測器 |
計(jì)數(shù)電路 | 數(shù)字處理方式 |
使用條款 | 溫度:5至27°C 濕度:20至75% 電源:AC100V,5A(50 / 60Hz) 接地:D類接地 |
其他(可選) | 噴墨彩色打印機(jī),鼠標(biāo) |