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更新日期：2025-03-11
簡要描述：
日本betterseishin粒子壓縮硬度測(cè)試儀MHT-1微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測(cè)量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細(xì)顆粒的自動(dòng)壓縮測(cè)試設(shè)備。當(dāng)粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強(qiáng)度時(shí)，該設(shè)備可測(cè)量峰負(fù)荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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日本betterseishin粒子壓縮硬度測(cè)試儀MHT-1
微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測(cè)量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細(xì)顆粒的自動(dòng)壓縮測(cè)試設(shè)備。當(dāng)粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強(qiáng)度時(shí)，該設(shè)備可測(cè)量峰負(fù)荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。通過從測(cè)量結(jié)果中選擇任何粒子，您可以看到具有負(fù)載位移曲線和連續(xù)圖像的斷裂過程。
*根據(jù)規(guī)格，目標(biāo)顆粒直徑可能為40-120μm或50-400μm。
對(duì)于粒子測(cè)量200-1500μm，可以使用 更好的硬度測(cè)試儀BHT-1000（全自動(dòng)粉末和谷物壓縮測(cè)試儀） 。
日本betterseishin粒子壓縮硬度測(cè)試儀MHT-1
| 規(guī)范列表 | MHT-1 | MHT-1W（高分辨率） |
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| 測(cè)量方法 | 恒定加載方法 | |
| 測(cè)量項(xiàng)目 | 高度顆粒直徑，峰負(fù)荷，位移，壓碎強(qiáng)度，破裂強(qiáng)度，變形強(qiáng)度 | |
| 靶顆粒直徑 | 50-400μm （手動(dòng)測(cè)量1毫米） *需要階段變化 | 40-120μm |
| 下降速度 | 從1.0到10μm/sec中選擇 | 從0.01到10μm/sec |
| 測(cè)量的顆粒數(shù) | 每個(gè)樣品最多500片 | |
| 負(fù)載電池 測(cè)試能力 | 1N（最小顯示0.01MN） 也可以更改為5N，10N和20N （可選） | 1N（最小顯示0.01mn） 5N也可以更改 （可選） |
| 相機(jī) | 從CMOS USB攝像機(jī)選擇： 480 x 270，130,000像素，640 x 360，230,000像素，960 x 540，520,000像素， 1920 x 1080，207億像素 | |
| 身體尺寸 | W450 x D460 x H400毫米 *包括突起 | |
| 體重 | 約25公斤 | 約26公斤 |
| 公用事業(yè) | AC100V 50/60Hz 2a | |
| 其他的 | 縮進(jìn)器：φ0.45mm直徑直（前端表面處理） LED燈，防塵蓋，校準(zhǔn)銅 | |
